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UCC21755QDWRQ1
IC

SOIC-16

可供量大可议

UCC21755QDWRQ1

UCC21755-Q1是一款电流隔离型单通道栅极驱动器, 专为最高2121V直流工作电压的碳化硅(SiC)MOSFET和IGBT而设计, 具备先进的保护特性、同类最佳的动态性能和高可靠性。 UCC21755-Q1的峰值源电流和灌电流最高可达±10A。 输入侧与输出侧采用二氧化硅(SiO₂)电容隔离技术进行隔离, 支持最高1.5kVRMS的工作电压、12.8kVPK的浪涌抗扰度, 隔离栅寿命超过40年, 同时具有低的器件间偏差和大于150V/ns的共模噪声抗扰度(CMTI)。 UCC21755-Q1具备先进的保护特性, 如快速过流和短路检测、支持分流电流检测、故障报告、有源米勒钳位以及输入和输出侧电源欠压锁定(UVLO), 可优化SiC和IGBT的开关性能和可靠性。 隔离式模拟转PWM传感器可用于更便捷的温度或电压检测, 进一步提高驱动器的通用性, 简化系统设计工作、减小尺寸并降低成本。

品牌

TI

封装

SOIC-16

库存

20

货期

现货

UCC21755QDWRQ1参数

封装SOIC-16
品牌TI(德州仪器)
MOQ / SPQ1 / 1
分类隔离式栅极驱动器
库存20

UCC21755QDWRQ1概述

UCC21755-Q1是一款电流隔离型单通道栅极驱动器, 专为最高2121V直流工作电压的碳化硅(SiC)MOSFET和IGBT而设计, 具备先进的保护特性、同类最佳的动态性能和高可靠性。 UCC21755-Q1的峰值源电流和灌电流最高可达±10A。 输入侧与输出侧采用二氧化硅(SiO₂)电容隔离技术进行隔离, 支持最高1.5kVRMS的工作电压、12.8kVPK的浪涌抗扰度, 隔离栅寿命超过40年, 同时具有低的器件间偏差和大于150V/ns的共模噪声抗扰度(CMTI)。 UCC21755-Q1具备先进的保护特性, 如快速过流和短路检测、支持分流电流检测、故障报告、有源米勒钳位以及输入和输出侧电源欠压锁定(UVLO), 可优化SiC和IGBT的开关性能和可靠性。 隔离式模拟转PWM传感器可用于更便捷的温度或电压检测, 进一步提高驱动器的通用性, 简化系统设计工作、减小尺寸并降低成本。

UCC21755QDWRQ1特性

暂无产品特性。

UCC21755QDWRQ1应用领域

暂无应用领域。

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