C0805W222KDRAC7800
IC
0805
可供量大可议
C0805W222KDRAC7800
用于易受表面电弧(飞弧放电)影响的高压应用。 表面电弧现象是由陶瓷体内两个端接表面之间或其中一个端接表面与相对内部电极结构之间的高压梯度引起的。 这种现象最常发生在满足或超过300V的应用电压、高湿度环境以及带宽间距(爬电距离)最小的芯片尺寸中。 这种现象可能会损坏周围组件或导致介电材料击穿, 最终导致短路情况(灾难性故障模式)
品牌
KEMET
封装
0805
库存
2,370
货期
现货
C0805W222KDRAC7800参数
| 封装 | 0805 |
|---|---|
| 品牌 | KEMET(基美) |
| MOQ / SPQ | 1 / 10 |
| 分类 | 贴片电容(MLCC) |
|---|---|
| 库存 | 2370 |
C0805W222KDRAC7800概述
用于易受表面电弧(飞弧放电)影响的高压应用。 表面电弧现象是由陶瓷体内两个端接表面之间或其中一个端接表面与相对内部电极结构之间的高压梯度引起的。 这种现象最常发生在满足或超过300V的应用电压、高湿度环境以及带宽间距(爬电距离)最小的芯片尺寸中。 这种现象可能会损坏周围组件或导致介电材料击穿, 最终导致短路情况(灾难性故障模式)
C0805W222KDRAC7800特性
暂无产品特性。
C0805W222KDRAC7800应用领域
暂无应用领域。