QFN-32-EP(5x5)
ATSAMD21E15B-MU
特性:处理器:Arm Cortex-M0+ CPU, 最高运行频率48 MHz, 具备单周期硬件乘法器和微跟踪缓冲区(MTB)。 存储器:4/2/1/0.5 KB 读写同步(RWWEE)闪存区(256 KB 设备上不可用); 256/128/64/32/16 KB 系统内可自编程闪存; 32/16/8/4 KB SRAM 存储器。 系统:具备上电复位(POR)和欠压检测(BOD); 提供内部和外部时钟选项, 配备48 MHz 数字锁相环(DFLL48M)和48 MHz 至96 MHz 分数数字锁相环(FDPLL96M); 有外部中断控制器(EIC), 支持16 个外部中断、1 个不可屏蔽中断(NMI); 采用两线串行调试(SWD)编程、测试和调试接口。 低功耗:支持空闲和待机睡眠模式, 具备睡眠行走外设。 外设:12 通道直接内存访问控制器(DMAC); 12 通道事件系统; 最多五个16 位定时器/计数器(TC), 可配置为不同模式; 可在端口引脚上生成同步脉冲宽度调制(PWM)模式, 具备确定性故障保护、快速衰减和互补输出之间的可配置死区时间; 抖动功能可将分辨率提高多达5 位并减少量化误差; 每个24 位TCC 最多八个PWM 通道, 每个16 位TCC 最多两个PWM 通道, 每个16 位TC 最多两个PWM 通道; 32 位实时计数器(RTC), 具备时钟/日历功能; 看门狗定时器(WDT); CRC-32 生成器; 一个全速(12 Mbps)通用串行总线(USB)2.0 接口, 具备嵌入式主机和设备功能, 八个端点; 最多六个串行通信接口(SERCOM), 可配置为多种模式; 一个两通道片上音频(I²S)接口; 一个12 位、350 ksps 模数转换器(ADC), 最多20 个通道, 支持差分和单端输入, 具备1/2x 至16x 可编程增益级、自动偏移和增益误差补偿、硬件过采样和抽取以支持13-16 位分辨率; 10 位、350 ksps 数模转换器(DAC); 最多四个模拟比较器(AC), 具备窗口比较功能; 外设触摸控制器(PTC), 最多256 通道电容式触摸和接近感应。 I/O:最多52 个可编程I/O 引脚。 认证:SAM D21 符合AEC-Q100 1 级(-40℃ 至125℃), SAM DA1 符合AEC-Q100 2 级(-40℃ 至105℃)。 兼容性:与SAM D20 直接兼容
品牌
MICROCHIP
封装
QFN-32-EP(5x5)
库存
8
货期
现货
ATSAMD21E15B-MU参数
| 封装 | QFN-32-EP(5x5) |
|---|---|
| 品牌 | MICROCHIP(美国微芯) |
| MOQ / SPQ | 1 / 1 |
| 分类 | 单片机(MCU/MPU/SOC) |
|---|---|
| 库存 | 8 |
ATSAMD21E15B-MU概述
特性:处理器:Arm Cortex-M0+ CPU, 最高运行频率48 MHz, 具备单周期硬件乘法器和微跟踪缓冲区(MTB)。 存储器:4/2/1/0.5 KB 读写同步(RWWEE)闪存区(256 KB 设备上不可用); 256/128/64/32/16 KB 系统内可自编程闪存; 32/16/8/4 KB SRAM 存储器。 系统:具备上电复位(POR)和欠压检测(BOD); 提供内部和外部时钟选项, 配备48 MHz 数字锁相环(DFLL48M)和48 MHz 至96 MHz 分数数字锁相环(FDPLL96M); 有外部中断控制器(EIC), 支持16 个外部中断、1 个不可屏蔽中断(NMI); 采用两线串行调试(SWD)编程、测试和调试接口。 低功耗:支持空闲和待机睡眠模式, 具备睡眠行走外设。 外设:12 通道直接内存访问控制器(DMAC); 12 通道事件系统; 最多五个16 位定时器/计数器(TC), 可配置为不同模式; 可在端口引脚上生成同步脉冲宽度调制(PWM)模式, 具备确定性故障保护、快速衰减和互补输出之间的可配置死区时间; 抖动功能可将分辨率提高多达5 位并减少量化误差; 每个24 位TCC 最多八个PWM 通道, 每个16 位TCC 最多两个PWM 通道, 每个16 位TC 最多两个PWM 通道; 32 位实时计数器(RTC), 具备时钟/日历功能; 看门狗定时器(WDT); CRC-32 生成器; 一个全速(12 Mbps)通用串行总线(USB)2.0 接口, 具备嵌入式主机和设备功能, 八个端点; 最多六个串行通信接口(SERCOM), 可配置为多种模式; 一个两通道片上音频(I²S)接口; 一个12 位、350 ksps 模数转换器(ADC), 最多20 个通道, 支持差分和单端输入, 具备1/2x 至16x 可编程增益级、自动偏移和增益误差补偿、硬件过采样和抽取以支持13-16 位分辨率; 10 位、350 ksps 数模转换器(DAC); 最多四个模拟比较器(AC), 具备窗口比较功能; 外设触摸控制器(PTC), 最多256 通道电容式触摸和接近感应。 I/O:最多52 个可编程I/O 引脚。 认证:SAM D21 符合AEC-Q100 1 级(-40℃ 至125℃), SAM DA1 符合AEC-Q100 2 级(-40℃ 至105℃)。 兼容性:与SAM D20 直接兼容
ATSAMD21E15B-MU特性
暂无产品特性。
ATSAMD21E15B-MU应用领域
暂无应用领域。
